国家知识产权局信息显示，杭州芯光半导体有限公司申请一项名为“基于多源数据驱动的芯片FT测试时间预测与自适应优化系统”的专利，公开号CN122490407A，申请日期为2026年4月。
专利摘要显示，本发明公开了基于多源数据驱动的芯片FT测试时间预测与自适应优化系统，具体涉及半导体测试与人工智能交叉技术领域，该系统包括数据采集与预处理模块、时序敏感多源数据融合模块、时序因果图注意力预测模块、因果感知深度强化学习优化模块、端到端联合优化引擎及执行与反馈模块。通过分层注意力机制融合多源异构数据，利用时序因果图注意力网络预测测试时间，结合因果感知强化学习动态生成优化决策，并基于梯度回传实现预测与优化的端到端联合优化。本发明能够显著缩短芯片FT测试时间，提高测试效率，具备高精度预测能力和决策可解释性，且能快速适应新芯片型号，实现持续自优化。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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